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X熒光光譜分析法用于檢測土壤重金屬的含量
發(fā)布時間:2022-07-27 18:04:13


? ? ? 作為分析儀器中目前檢測金屬元素的常用的方法一般有以下幾種:原子熒光、原子吸收、分光光度法、XRF分析法,ICP及ICP-MS法等。目前土壤檢測分析,主要也是檢測土壤中重金屬含量,現在來看X熒光光譜儀是非常適合用來土壤檢測的。


? ? ? 雖然ICP光譜儀檢測范圍更廣,靈敏度更高,但是因為儀器較大,對于現場使用條件還是相對苛刻一點,而X熒光光譜儀手持式儀器也已經在市面上廣泛流傳,而前段時間,國家關于863計劃項目之“高精度手提式X熒光儀的研發(fā)”編號為:2012AA06180301更是推動了手持式熒光光譜儀的應用。


? ? ?采用X熒光光譜分析法,利用理論α系數校正基體效應,建立Cu、Cr、Ni、Zn、As、Pb六種元素的校正工作曲線。其各元素的校正系數為:Cr對SiO2的α系數為0.3112,對Fe2O3的α系數為0.2711,對CaO的α系數為3.1803;Ni對Fe2O3的α系數為-0.7443,對CaO的α系數為-0.1252;Cu對Fe2O3的α系數為-0.8223,對CaO的α系數為-0.2943;Pb對Fe2O3的α系數為-0.5052,對CaO的α系數為-0.1167;Zn對Fe2O3的α系數為-0.63,對CaO的α系數為-0.1153;As對于Pb的重疊干擾因子校正系數為0.295285。對Fe2O3的α系數為-0.0001,對CaO的α系數為-0.0001。


? ? ?利用熒光光譜儀對突然污染情況進行分析,并建立好完善的X熒光光譜分析模型,通過數據來分析土壤污染情況,對整個土壤的治理有著至關重要的一步。

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